Loading

Программы измерений

Здесь представлены некоторые виды измерений, проводимых лабораторией Архилайт. Полный список услуг смотрите на сайте фотометрической лаборатории

Предлагаемое к продаже оборудование аналогично тому, на котором проводятся данные измерения.

1. Базовая программа фотометрических измерений

Содержит необходимый минимум параметров, требуемый для оценки основных фотометрических параметров источника света - ИС (светильника, лампы, светодиода и др.): светового потока, угловых характеристик излучения, силы света. Применяется для проверки соответствия рассчитанных или декларируемых характеристик ИС реальным.

Срок исполнения (до 5-ти образцов): 2 рабочих дня.
ВНИМАНИЕ! Стоимость программы №1 в комплексе 8500 руб. без НДС.
Содержание программы:
Параметр Стоимость, руб
Цены в Таблице указаны БЕЗ УЧЕТА НДС
1Диаграмма пространственного распределения силы света в одной или 2-х плоскостях пространства, Iv (Q) [cd(deg)]3000
2Максимальная и осевая сила света Ivmax [cd], Ivax [cd]800
3Угловые характеристики излучения по 2-м любым уровням силы света каждой плоскости (n*Iv) [deg (n*cd)]2000
4Световой поток, Ф [lm]5000
5Распределение светового потока по 2-м любым уровням силы света или углам излучения в пределах диаграммы, Ф(Q) [lm(n*cd)], [lm(deg)] 1000



2. Расширенная программа фотометрических измерений

Содержит расширенный список параметров, требуемый для подробной оценки фотометрических параметров источника света (светильника, лампы, светодиода и др.): светового потока, угловых характеристик излучения, силы света, световой эффективности и др. Применяется для проверки соответствия рассчитанных или декларируемых характеристик ИС реальным, а также для формирования ТУ, спецификаций, «даташитов».

Срок исполнения (до 5-ти образцов): 2 рабочих дня.
ВНИМАНИЕ! Стоимость программы №2 в комплексе 11500 руб. без НДС.
Содержание программы:
Параметр Стоимость, руб
Цены в Таблице указаны БЕЗ УЧЕТА НДС
1Диаграмма пространственного распределения силы света (силы излучения) в нескольких плоскостях пространства, Iv (Q) [cd(deg)]3000
2Максимальная и осевая сила света Ivmax [cd], Ivax [cd]800
3Угловые характеристики излучения по 2-м любым уровням силы света каждой плоскости (n*Iv) [deg (n*cd)]2000
4Световой поток, Ф [lm]5000
5Освещённость (энергетическая освещённость) поверхности от исследуемого источника излучения на любом расстоянии от него, E [lx], E [W/m2]1000
6Распределение светового потока по любым уровням силы света или углам излучения в пределах диаграммы в плоскостях измерения, Ф(Q) [lm(n*cd)], [lm(deg)]1000
7Прямая ВАХ, If(Uf)[A(V)] (только для светодиодов)2000
8Обратная ВАХ, Ir(Ur) [-A(-V)] (только для светодиодов)1000
9Активная потребляемая мощность, Р[W]1500
10Световая эффективность источника излучения (светоотдача) K=Ф(P) [lm/ Wel]4500



3. Полный комплекс (до 40 позиций)

Содержит полный список параметров (до 40 позиций), требуемый для самой подробной оценки фотометрических (энергетических) и колориметрических (спектральных) параметров источника света (излучения) (светильника, лампы, светодиода и др.): светового потока (мощности излучения), угловых характеристик излучения, силы света, световой эффективности, коррелированной цветовой температуры, координат цветности и др. Применяется для проверки соответствия рассчитанных или декларируемых характеристик ИС реальным, для формирования ТУ, спецификаций, «даташитов», а также для прецизионных и полных исследований характеристик любого источника излучения. Программа применяется для исследования деградационных характеристик полупроводниковых источников света.

Срок исполнения (до 5-ти образцов): 3 рабочих дня.
ВНИМАНИЕ! Стоимость программы №2 в комплексе 18000 руб. без НДС.
Содержание программы:
Параметр Стоимость, руб
Цены в Таблице указаны БЕЗ УЧЕТА НДС
1Диаграмма пространственного распределения силы света (силы излучения) в нескольких плоскостях пространства, Iv (Q) [cd(deg)]3000
2Максимальная и осевая сила света Ivmax [cd], Ivax [cd]500
3Угловые характеристики излучения по 2-м любым уровням силы света каждой плоскости (n*Iv) [deg (n*cd)]2000
4Световой поток (мощность излучения), Фv [lm] (Фе [lm])5000
5Распределение мощности излучения в пределах диаграммы, Фе () [W(deg)]3500
6Распределение светового потока по любым уровням силы света или углам излучения в пределах диаграммы, Ф() [lm(n*cd)], [lm(deg)].3500
7Распределение плотности мощности в пределах диаграммы, части диаграммы [W/sr]1000
8Освещённость (энергетическая освещённость) поверхности от исследуемого источника излучения на любом расстоянии от него, E [lx], E [W/m2]1000
9Яркость источника излучения, L [cd/m2] (по отдельному заказу)500
10Прямая ВАХ If(Uf) [A(V)] (только для светодиодов)2000
11Обратная ВАХ Ir(Ur) [-A(-V)] (только для светодиодов)1000
12Динамическая эффективность источника излучения dФ(dP) [lm(Wel)] (только для светодиодов)1000
13Дифференциальное сопротивление и потребляемая мощность dI(dU) [Ohm], dI*dU [W] (только для светодиодов)500
14Световая эффективность (светоотдача), K [lm/ Wel]4500
15КПД излучения, Kp [Wopt /Wel]4000
16Спектральное распределение излучения Фе(L) [A.U.(nm)] (По заказу – абсолютное, относительное)2000
17Координаты цветности X,Y,Z4000
18Доминирующая (относительно любого стандартного источника), центроидная, максимальная длины волн: [nm]1000
19Спектральная световая эффективность К [Lm/Wopt]500
20Относительная (коррелированная) цветовая температура T [К]4000
21Полуширина спектра FWHM [nm]500
22Ширина спектра по любому уровню отн. спектрального распределения энергетической яркости (освещённости) [nm]500
23Индекс цветопередачи Ra (CRI)5000


© 2011 ООО «Архилайт» - полностью независимая организация, предоставляющая услуги по измерениям параметров светотехнических устройств, изучению и исследованию характеристик полупроводниковых излучающих светодиодов и структур, формированию светотехнических проектов на основе собственных измерений. Полное или частичное копирование текстовых материалов или изображений без письменного разрешения ООО «Архилайт» запрещено и влечет ответственность, предусмотренную законодательством РФ о защите авторских прав.
Яндекс.Метрика